面向集成电路电阻电容提取的高级场求解器技术 - 中国高校教材图书网
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书名： |
面向集成电路电阻电容提取的高级场求解器技术
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| ISBN： | 9787302351511 |
责任编辑： | |
| 作者： |
Wenjian Yu、Xiren Wang
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装订： | 0 |
| 印次： | 1-1 |
开本： | 16开 |
| 定价： |
￥59.00
折扣价：￥56.05
折扣：0.95
节省了2.95元
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字数： |
282千字
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| 出版社： |
清华大学出版社 |
页数： |
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| 出版日期： |
2014-05-01 |
每包册数： |
6
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| 国家规划教材： |
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省部级规划教材： |
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| 入选重点出版项目： |
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获奖信息： |
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| 内容简介： |
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电阻、电容（ＲＣ）提取是设计纳米制造工艺集成电路的重要步骤，通过它对集成 电路中的互连线或衬底耦合效应进行电学建模，为进一步的电路性能验证、制造良率 分析提供基础。用于ＲＣ提取的场求解器方法直接对电场进行求解，因此具有最高 的准确度。为了满足集成电路设计中准确建模与仿真的要求，场求解器ＲＣ提取方 法正变得越来越重要。本书对刻画超大规模集成电路互连线和混合信号集成电路衬 底耦合效应的关键场求解器提取方法进行了全面、系统的介绍。通过来自实际电路 设计的例子，对各种场求解器算法进行了详细阐述，并说明它们各自的优点和缺点。 本书适合于电子工程和计算机工程相关专业的研究生和学者阅读，也可为工作 在集成电路设计、设计自动化领域的技术人员提供参考。
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| 作者简介： |
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| 章节目录： |
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| 精彩片段： |
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| 书 评： |
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| 其 它： |
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